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聯策科技攜手叡盈實業參與2026台北國際自動化工業大展,於南港展覽館二館 S005 攤位展示玻璃晶圓AOI、TGV檢測及X-Ray非破壞性檢測等智慧檢測解決方案。
聯策科技攜手叡盈實業亮相台北自動化展 聚焦玻璃晶圓AOI與先進封裝檢測
整合光學量測、TGV檢測與X-Ray非破壞性檢測技術,拓展半導體先進製程智慧檢測應用
2026.08.19|2026台北國際自動化工業大展
聯策科技攜手叡盈實業參與2026台北國際自動化工業大展,於南港展覽館二館 S005 攤位展示玻璃晶圓AOI、TGV檢測及X-Ray非破壞性檢測等智慧檢測解決方案。 2026台北國際自動化工業大展於8月19日至22日在台北南港展覽館登場。聯策科技(SynPower)此次攜手叡盈實業(RULYING),於南港展覽館二館 S005 攤位 共同展示智慧檢測相關解決方案,聚焦玻璃晶圓自動光學檢測(AOI)、3D量測、TGV檢測及X-Ray非破壞性檢測等技術應用,展現公司持續由自動化設備與機器視覺能力向半導體及先進封裝製程延伸的布局。
隨著AI、高效能運算及先進封裝技術快速發展,製程所需的基板與結構日益精細,也帶動玻璃基板、玻璃晶圓及TGV(Through Glass Via)等新型製程技術受到市場關注。相較傳統製程,相關應用對於微細結構、表面缺陷、尺寸及製程品質的檢測能力提出更高要求,也使自動化光學檢測與非破壞性檢測成為智慧製造的重要環節。
玻璃晶圓AOI × 3D量測 × TGV檢測
本次聯策於展會現場展示的玻璃晶圓AOI設備解決方案,整合自動化取放、光學檢測及量測功能,可因應玻璃晶圓相關製程的檢測需求;展示內容涵蓋裸玻璃缺陷檢測、3D量測及TGV檢測等應用,透過自動化設備與影像分析,協助製造端建立更完整的製程檢測資訊。
X-Ray CT非破壞性檢測延伸內部結構觀察
現場亦展示X-Ray CT非破壞性檢測設備相關應用,藉由X-Ray影像技術觀察產品內部結構,補足傳統外觀光學檢測較難掌握的內部缺陷資訊,進一步因應半導體及先進封裝製程對內部結構檢測的需求。
聯策長期投入機器視覺、智慧製造及自動化設備整合,近年亦持續將既有檢測與設備能力延伸至半導體及先進封裝領域。此次與專注於高精密檢測設備及關鍵元件的叡盈實業共同展出,結合雙方在設備、檢測技術及產業應用上的經驗,希望進一步回應客戶在新製程導入、品質管理及智慧化生產上的需求。
2026台北國際自動化工業大展自8月19日至22日舉行,聯策科技與叡盈實業於 南港展覽館二館 S005 攤位 展出相關設備與解決方案,歡迎產業夥伴蒞臨交流。
關於聯策科技股份有限公司
聯策科技股份有限公司(股票代號:6658)成立於2002年,投入智慧製造、自動化檢測與設備整合領域,產品應用涵蓋PCB、IC載板及半導體製造相關應用。公司以光學/視覺檢測、濕製程設備與自動化整合為核心,結合智能化生產、智慧節能及客製化設備開發能力,提供製程設備、檢測量測到智慧製造之整合解決方案。