告別傳統AOI假點侷限

實現樹塞孔量產化的專用光學檢查

► In-Line機型

・正反兩面同時高速檢查

・專利低角度光學高對比對成像真假分明

・多元化的檢查邏輯針對孔口凹陷、空洞、裂紋、孔中氣泡，孔位變形，孔缺失、尺寸等缺陷檢查

・搭配AI複檢效率再進化

► Off-Line機型可搭配3D光學量測樹塞孔缺陷深度