Laser Blind Via AOI Inspection Solution 雷射盲孔檢測 AOI,強化鑽孔後品質把關 因應雷射鑽孔後與等離子除膠、去棕化後製程品質檢測需求,此設備提供 高精檢測殘留異物、殘膠與孔位異常, 協助客戶即時掌握盲孔加工品質。 透過 高精檢測殘留異物、殘膠辨識、 孔位偏移檢測 與 大孔 / 底孔尺寸偏差判定, 可有效檢出漏鑽、形狀異常與圓度錯誤等缺陷,提升製程穩定性與出貨品質。 雷射盲孔檢測 殘膠檢測 孔位偏移 漏鑽檢出 大孔 / 底孔偏差 形狀圓度異常