高速背鑽偏心 AOI，提升背鑽品質檢測效率

因應 PCB 背鑽製程中偏心、漏鑽、堵孔等缺陷檢測需求，此設備提供 高景深低畸變影像檢查， 可快速辨識多種背鑽異常，協助客戶提升檢測效率與製程穩定性。

透過 高速影像擷取、多缺陷檢測能力 與 成熟的 AOI 檢測架構， 可應用於背鑽偏心、漏鑽、堵孔等品質檢查，並獲多家伺服器國際大廠認可。