Semiconductor Carrier Inspection Solution 半導體載具量測,建立完整品質履歷 因應半導體載具高精度檢測與製程品質管理需求,此設備提供 光學量測、外觀檢測與 AI 瑕疵判定, 協助客戶掌握載具狀態並提升檢測一致性。 透過 全方位檢測、OHT 自動上下料、 FOUP 360° 旋轉檢測 與 品質履歷記錄, 提供從尺寸量測、缺陷檢出到健康管理的一站式自動化檢測解決方案。 全方位檢測 自動化生產 FOUP 360° 旋轉檢測AI檢測復判系統品質履歷管理